德州SIL定级报告

时间:2021年05月09日 来源:

    相关概念:DCd:危险失效诊断覆盖率。DCd=λDD/λDDCs:安全失效诊断覆盖率。:DCs=λSD/λSβ:共因失效。单一故障源导致一个系统内的多个部件失效。该故障源可能是系统内的,也许是系统外的。λsd:显性安全故障λsu:隐性安全故障λdd:显性危险故障λdu:隐性危险故障HFT:硬件故障裕度(HardwareFaultTolerance)对硬件危险故障的容忍度。HFT=N-MMooN:“N”个**通道构成的安全仪表系统或其部分,它被连接成其中“M”个通道足以执行仪表安全功能。MTTR:平均恢复时间MeanTimeToRestore。传统上,MTTR指平均维修(Repair)时间。SFF:安全失效分数SIF:安全仪表功能SIS:安全仪表系统SIL:安全完整性等级TI:检验测试(功能测试)的时间间隔。 岩腾自动化位于山东淄博。德州SIL定级报告

LOPA是一种非常系统、详尽的分析程序,它涉及到工艺过程的每一个细节,但在具体分析时有许多不正常状态是不会引致事故的,因此,为了保证分析工作做到切实有效、重点突出,只对能产生下列后果的事故进行风险分析:①人员(职工、公众)伤害②环境破坏③财产损失,对不产生上述后果的非正常状态只进行一般的HAZOP危害分析。首先应该确定后果严重等级和初始事件频率,查风险矩阵表,确定是否需要风险降低,然后进行**保护层识别,确定风险降低的频率等级,反查矩阵表,需要SIS降低的风险等级即是目标SIL等级。日照SIL定级报告岩腾自动化产品皆采用国际质量原材料和先进技术。

当需要你配合SIL验算工作的展开,作为一个仪表工程师,你需要做哪些准备呢?无论是自己打算做验证计算还是委托第三方做验证计算,下图所示的一些基本程序都不可回避。第一步:阅读定级报告问题1:首先要了解SIL验算算什么?验证的目的是计算每一个回路的SIL等级以及要求的平均失效概率(PFD)是否满足定级要求,假如不满足,则需要重新进行安全仪表系统选型和设计,假如满足,则认为验证合格。因此,验证报告中每一个回路的结果要和定级每一个回路进行对比。平均失效概率(PFD)在标准中自有其定义,简单的理解说,就是了对应的仪表/回路的失败几率。当然是几率越低越不容易出事,那么SIL等级也越高。毫无疑问SIL2比SIL1更安全,对应的平均失效概率(PFD)更低,牢记这一点,对后期审阅SIL验证报告将有很大的帮助。好的开始是成功的一半,一份完美的SIL定级报告无疑是成功的第一步。

SIL定级_**保护层的要求

**保护层能够有效阻止后果的发生。化工企业保护层作为IPL时,应满足:

a)**性

——应**于初始事件;

——应**于同一场景中的其它**保护层。

b)有效性

——应能检测到响应的条件;

——在有效的时间内,应能及时响应;

——在可用的时间内,应有足够的能力采取所要求的行动。

——应满足所选择的PFD的要求。

c)安全性。应使用管理控制或技术手段减少非故意的或未授权的变动。

d)变更管理。设备、操作程序、过程条件等任何改动应执行变更管理程序,以满足变更后保护层的IPL要求。

e)可审查性。应有相应的信息资料,以说明保护层的设计、检查、维护、测试和运行活动能够使保护层达到IPL的要求。 岩腾自动化秉承“诚信、务实、专业、创新”的经营理念。

EN50156 IEC 61784-3:测量和控制数字数据通信第三部分 工业网络功能安全行规

该标准主要定义了如下内容:

(1)执行IEC 61508种安全相关数据通讯的要求基本原则,包含潜在的错误传输,应对措施和影响数据完整性方面

(2)各种技术实现的通用内容

(3)各种通讯行规簇的功能安全行规的**描述

(4)规定了几种安全通讯层,作为IEC61784-1和IEC61158系统标准中通讯服务行规部分

EN50126 铁路应用:可靠性、可用性、可维护性和安全性(RAMS)规范和说明

该标准定义了系统的RAMS(reliability、availability、maintainability和safety),即可靠性、可用性、可维护性

且规定了安全生命周期内各个阶段对RAMS的管理和要求,RAMS作为系统服务质量衡量的一个重要特征,是在整

周期内的各个阶段通过设计理念、技术方法而得到的。

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    软硬件SIL的评估①硬件故障裕度的要求硬件故障裕度指部件或子系统在出现一个或几个硬件故障的情况下,功能单元继续执行所要求的仪表安全功能的能度N意味着N+1个故障会导致全功能的丧失。例如:硬件故障裕度为1,表示如有两台设备,它们的结构应使得两个险失效不得阻止安全动作发生。为了减轻仪表安全功能设计中的潜在缺陷,IEC61511-1表5和表6定义了传感器、端元件比较低的硬件故裕度。对仪表安全功能而言,传感器、逻辑解算器和**终元件应具有比较低的硬件故障裕度,硬件比较低的部件或子系统冗余。②硬件安全完整性的结构约束硬件安全功能所声明的比较高安全完整性等级受限于硬件故障裕度及执行该安全功能的子系统的安全失效分数(SFF)。表2和表3为A类和B类相关子系统的结构约束,表示在失效分数(SFF)确定的情况下,SIL与比较低硬件故障裕度之间的在进行SIL评估时,我们首先要根据部件或子系统的失效模式是否已知、数据是否可靠、故障行为是否确定来区别硬属于A类还是B类。然后,进行SFF及PFD计算,对应。即部件和相关子系统的安全完整性等确定子系统比较大硬件安全完整性等级时,必须考虑系统结构约束,即在SFF确定前提下,故障裕度要求与SIL的对应关系子系统的结构约束。 德州SIL定级报告

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